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ネプコン ジャパン 2018 出展


ネプコン ジャパン2018に弊社の基板外観検査装置“Sherlockシリーズ”、基板レーザーマーキング装置“Watson”を出展致します。                  

日  時

2018年1月17日(水)~19日(金)

10時~18時(最終日は17時まで)

会  場

東京ビッグサイト  東4ホール

「エレクトロテスト ジャパン」エリア

ブースNo. E33-40

みなさまのご来場を、心よりお待ち申し上げております。


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